Чем больше разных кювет и приставок совместимо с ИК-спектрометром, тем более широкий круг задач решает этот прибор. Имеющийся набор кювет, держателей, приставок и дополнительных приспособлений к спектрометрам ФСМ позволяет решать самые разные аналитические и исследовательские задачи.
Стандартные жидкостные кюветы к спектрометрам ФСМ позволяют варьировать толщину поглощающего слоя в диапазоне 0,1 - 20 мм. Окна кювет изготавливают из KBr, CaF2 или ZnSe.
Толщина поглощающего слоя в одноходовых и многоходовых газовых кюветах с окнами из KBr или CaF2 - от 100 мм до более 40 м, что позволяет работать в широком диапазоне концентраций компонентов газовых смесей, в т.ч., определять газовые примеси с низкими концентрациями.
Кроме широкого набора жидкостных и газовых кювет с разными толщинами поглощающего слоя и оптическими окнами из разных материалов, спектрометры ФСМ комплектуются приставками для реализации разных техник ИК-спектроскопии.
Одними из наиболее востребованных являются приставки нарушенного полного внутреннего отражения, позволяющие напрямую, без предварительной пробоподготовки исследовать твердые пробы и порошки, пасты, суспензии, смазки, микрообъекты и другие «неудобные» пробы, а также оптически плотные и непрозрачные образцы различной физической природы. В настоящее время техника НПВО/МНПВО настолько востребована, что большинство ИК спектрометров в мире приобретаются уже с этими приставками.
Спектрометры ФСМ оснащают штатными приставками однократного и многократного нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО и МНПВО). Приставка МНПВО-36 – семи-ходовая, с призмой ZnSe обеспечивает возможность эффективной работы, практически, во всем среднем ИК-диапазоне и возможность варьирования толщины поглощающего слоя от 1 до 50 мкм. Кроме призмы ZnSe, можно использовать призмы из Ge и Si. Одноходовая приставка НПВО-Алмаз с 3-х миллиметровой алмазной призмой также практически не сужает рабочий диапазон спектрометра, особенно эффективна в диапазоне 400-4000 см-1 и позволяет работать, в т.ч., и с мало-размерными пробами.
Существенно расширяют функциональные возможности ИК- спектрометров ФСМ приставки зеркального (ПЗО-10, ПЗО-30, ПЗО-45 и ПЗО-80 с углами падения 10о, 30о, 45о и 80о) и диффузного отражения. Так, например, с приставкой зеркального отражения ПЗО-80 при «скользящем» угле падения 80о появляется возможность эффективно изучать состав и оптические свойства очень тонких, нанометровых покрытий на различных, в т.ч., оптически активных основах.